Flow, Analyse & Control Show 2013

12-06-2013 10:00

Dinsdag 11 en woensdag 12 juni 2013 vindt de derde editie van de Flow, Analyse & Control Show plaats. Een gevarieerd lezingenprogramma met actuele thema's uit de verschillende marktsegmenten en een marktplaats met een ruime selectie aan (veld)instrumenten geven u de bestmogelijke indruk van hoe vandaag liquid- en gasflows kwalitatief en kwantitatief gemeten en geregeld worden.

De Flow, Analyse & Control Show richt zich zowel op specialisten die op de hoogte willen blijven van de
nieuwste technologieën en snufjes, maar ook voor de bezoeker met minder of geen achtergrond hebben
we een zeer interessant lezingen programma over alle facetten van Flow, Analyse & Control!

programma 12 juni :

10.00 uur	Plenaire spreker
10.30 uur	Classificatie en benchmarking van energie meetsystemen Henk Riezebos DNV KEMA
11.00 uur	Pauze
11.30 uur	Differential pressure flow measurement with a V-Cone Kieron John McCann, McCrometer	Data acquisitie systemen in een modern jasje Marco Bischoff, Yokogawa Europe Solutions	Fundamentals of gas flow calibration Carel Adolfse, Minerva Meettechniek
12.00 uur	Coriolis massaflowmeters in gasapplicaties, standaard of toch niet? Colin Cheeseman, Krohne Nederland	New primary standard for ultra-low flow rate calibrations Peter Lucas ,VSL	Terminal Automation en klanttevredenheid Cor Vermeijs, Emerson Process Management
12.30 uur	Verschildruk flowmetingen - state-to-the-art Walewijn van der Weegen, A-B-T	Functionele instrumentele veiligheid (SIL2) bij opslagtanks Erwin Post, Endress + Hauser	Titel volgt Spreker volgt
13.00 uur	Lunch
14.00 uur	Simultaneous Process Monitoring of Concentration and Mass Flow with Non-invasive Clamp-on Ultrasonic Technology Dr. Jörg Wylamrzy, FLEXIM GmbH	Onderhoud voorspellen voor analyse-apparatuur met "Prognosys" Erwin Poutsma of Peter Jan van Oene, HACH LANGE	Multi Fase flowmeting door middel van coriolis meettechniek (Bent u ook al zolang opzoek naar een betrouwbare oplossing voor een multifase flowmeting?) Dieter Stepanek , Invensys Systems
14.30 uur	Nieuwe flowmeter Amy Mennen, SICK NV	Low range moisture analysis using tunable diode laser absorption spectroscopy Gerard McKeogh, GE Measurement & Control	Stack Control Michiel Lander, Delan
15.00 uur	Pauze
15.30 uur	Integrated micro Wobbe Index meter enabling on-chip energy content measurement Joost Lötters, Bronkhorst Nederland	Continue meting van totaal kwik Jan Viljeer, Envico Environment-Control	Automatiseren van kunststof leidingsystemen Karl Diependaal, Georg Fischer
16.00 uur	Thermalmassflow with MEMS or capilary sensor Wim Bobbink, MCC Instruments		ATEX Inspectie Niet-elektrische apparatuur: wat is het risico? Willem van der Bijl, Produca
16.30 uur	Plenaire spreker
17.00 uur	Borrel