Flow, Analyse & Control Show 2013

11-06-2013 10:00

Dinsdag 11 en woensdag 12 juni 2013 vindt de derde editie van de Flow, Analyse & Control Show plaats. Een gevarieerd lezingenprogramma met actuele thema's uit de verschillende marktsegmenten en een marktplaats met een ruime selectie aan (veld)instrumenten geven u de bestmogelijke indruk van hoe vandaag liquid- en gasflows kwalitatief en kwantitatief gemeten en geregeld worden.

De Flow, Analyse & Control Show richt zich zowel op specialisten die op de hoogte willen blijven van de
nieuwste technologieën en snufjes, maar ook voor de bezoeker met minder of geen achtergrond hebben
we een zeer interessant lezingen programma over alle facetten van Flow, Analyse & Control!

programma 11 juni :

 

10.00 uur Plenaire spreker
10.30 uur Vertrouwen is goed, controle is beter Remco Rijsenbrij, Johma
11.00 uur Pauze
11.30 uur "Basics of Flow" Welke flow meting past in welke toepassing?
Kees Kaijser, Dow
"Basics of Dust"
John Snakenburg, SICK NV
"Basics of Control"
Michiel Lander, Delan en Karl Diependaal, Georg Fischer
12.00 uur "Basics of pH"
Bart Küpers, Endress+Hauser
"Basics of quarter turn actuators"
Michiel Lander, Delan
12.30 uur First ever liquid ultrasonic meter SIL certified by design
Gerard Bottino, GE Measurement & Control
MID toegelaten meetsystemen in de praktijk
Eugene de Raaff, ODS Instrumentatie
Automatiseren van kunststof leidingsystemen
Karl Diependaal, Georg Fischer
13.00 uur Lunch
14.00 uur Flow en energie verificatie van comptabele gas meetsystemen
Lennart van Luijk, DNV Kema Groningen
Joost van Parreeren, Flexim Instruments Benelux
Onderhoud voorspellen voor analyse-apparatuur met "Prognosys"
Erwin Poutsma of Peter Jan van Oene, HACH LANGE
FLOW++ : measurement of flow and gas composition using Wireless Autonomous Transducer Systems
Sandro Hannemann, TNO
14.30 uur EuroLoop, New perspectives in flow calibrations
Dr. Jos van der Grinten, NMi Euroloop
Analyzer Systemen voor LNG (Liquified Natural Gas)
Arthur Groenbos, Yokogawa Europe Solutions
Energy efficiency
John van Gorsel, Emerson Process Management
15.00 uur Pauze
15.30 uur Thermische gasmassaflowmeters anno 2013
Ton Bol, A-B-T
Besparing in procesanalyse meettechniek
Spreker volgt, Krohne Nederland
Obstructiloze inline geleidbaarheidsmeting en kalibratie management (Zou u ook graag eenvoudig, inline uw geleidbeerheidsmeting willen kalibreren?)
Gerrit Bruntink, Invensys Systems
16.00 uur Effective Plant Asset Management
Marcel Middeldorp, DuPont
Titel volgt
Spreker volgt
"Basics of Conductivity"
Miranda de Bruijn,Yokogawa Europe Solutions
16.30 uur Plenaire spreker
17.00 uur Borrel